During short circuit test iron losses are negligible because-
Solution
Correct Answer: Option C
- ট্রান্সফরমারের Short Circuit Test-এর মাধ্যমে মূলত কপার লস (Copper Loss) এবং ইকুইভ্যালেন্ট রেজিস্ট্যান্স বা ও রিঅ্যাক্ট্যান্স নির্ণয় করা হয়।
- এই পরীক্ষার সময় ট্রান্সফরমারের সেকেন্ডারি ওয়াইন্ডিংকে শর্ট সার্কিট করা হয় এবং প্রাইমারি সাইডে খুব অল্প পরিমাণ ভোল্টেজ (সাধারণত রেটেড ভোল্টেজের ৫%-১০%) প্রয়োগ করা হয়।
- আয়রন লস বা কোর লস (Iron/Core Loss) সরাসরি সাপ্লাই ভোল্টেজের ওপর নির্ভরশীল (Core loss ∝ V²)।
- যেহেতু শর্ট সার্কিট টেস্টে প্রাইমারি সাইডে প্রয়োগকৃত ভোল্টেজ খুবই নগণ্য বা কম থাকে, তাই এই ভোল্টেজের কারণে সৃষ্ট আয়রন লসও অত্যন্ত কম হয়।
- এই লস এত সামান্য হয় যে, ব্যবহারিক ক্ষেত্রে শর্ট সার্কিট টেস্টের সময় আয়রন লসকে উপেক্ষা (Negligible) করা হয়।
- অন্যদিকে, অল্প ভোল্টেজেই প্রাইমারি ও সেকেন্ডারিতে পূর্ণ লোড কারেন্ট প্রবাহিত হয় বলে এই পরীক্ষায় কপার লসই প্রধান হয়ে দাঁড়ায়।
- এই পরীক্ষার সময় ট্রান্সফরমারের সেকেন্ডারি ওয়াইন্ডিংকে শর্ট সার্কিট করা হয় এবং প্রাইমারি সাইডে খুব অল্প পরিমাণ ভোল্টেজ (সাধারণত রেটেড ভোল্টেজের ৫%-১০%) প্রয়োগ করা হয়।
- আয়রন লস বা কোর লস (Iron/Core Loss) সরাসরি সাপ্লাই ভোল্টেজের ওপর নির্ভরশীল (Core loss ∝ V²)।
- যেহেতু শর্ট সার্কিট টেস্টে প্রাইমারি সাইডে প্রয়োগকৃত ভোল্টেজ খুবই নগণ্য বা কম থাকে, তাই এই ভোল্টেজের কারণে সৃষ্ট আয়রন লসও অত্যন্ত কম হয়।
- এই লস এত সামান্য হয় যে, ব্যবহারিক ক্ষেত্রে শর্ট সার্কিট টেস্টের সময় আয়রন লসকে উপেক্ষা (Negligible) করা হয়।
- অন্যদিকে, অল্প ভোল্টেজেই প্রাইমারি ও সেকেন্ডারিতে পূর্ণ লোড কারেন্ট প্রবাহিত হয় বলে এই পরীক্ষায় কপার লসই প্রধান হয়ে দাঁড়ায়।
Practice More Questions on Our App!
Download our app for free and access thousands of MCQ questions with detailed solutions